X射线能谱仪

1. 探测器核心参数

Ø类型与结构

采用小平面型高纯锗探测器，配备厚度为0.025mm的超薄铍窗，为低能X射线探测提供高效的窗口透过率。

Ø工作范围

能量探测范围宽广，下限可达800eV，上限300keV，完整覆盖从超软X射线到硬X射线能谱分析需求。

2.电制冷装置

Ø制冷技术与结构

采用脉冲管制冷技术，制冷机与探测器为一体化不可拆卸设计。

系统运行中无机械运动部件无磨损，且使用惰性气体制冷剂，从根本上杜绝油污及制冷剂堵塞问题。

3.数字化多道分析器

Ø系统架构与集成

采用一体化数字电子学设计，内置高压发生器、放大器及多道分析器等核心模块。

支持TCP/IP协议通信，并集成内置WEB服务器，便于网络接入与远程控制。

Ø核心分析性能

ADC道数：16k道。

测量模式：支持脉冲高度分析（PHA）与多路定标（MCS）模式。

系统增益：增益范围从x1.6至x360，增益段可选择为512、1024、2048、4096、8192或16384道。

脉冲处理：脉冲对分辨率优于500 ns；数字滤波器上升时间0.2-30μs，平顶时间0-2.8μs。

4.谱分析及获取软件

Ø核心控制与获取功能

集成一体化谱分析软件，可实现硬件控制、能谱获取、实时显示、数据存储及参数设定等核心操作。